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光电测试系统

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LT激光测距机测试系统

INFRAMET公司是一家致力于光电成像产品的测试和模拟的高技术企业。公司的主要产品包括可见光电视相机测试系统(TVT)、红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT)、夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB)、激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE)、二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R)、条纹管测试系统(SPT、STT)、多传感器测试系统(JT、MS)、被动式THz成像仪测试系统(THP)、短波成像仪测试系统(ST)、紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等。目前INFRAMET是全球唯一一家能够提供任何类型电光成像系统的测试设备和用于培训成像系统操作者计算机模拟器的供应商。INFRAMET为客户提供高品质的测试仪器和计算机软件。

INFRAMET公司的产品根据用分为三类:

光电成像系统测试设备

光电系统的计算机模拟器

光电成像系统测试的技术服务

INFRAMET公司的技术优势:

INFRAMET是世界上仅有的四个可以提供高技术检测设备的公司之一。

INFRAMET是世界上仅有的三个可以提供具有商业价值的高技术检测现代的像增强管的公司之一。

INFRAMET是世界上仅有的两家可以提供具有商业价值的计算机模拟器的公司之一。

*    Inframet提供两个两个型号的激光测量系统测量激光测距仪,激光照射器和激光指示器。

LT测量系统 — 用于激光测距仪和其它激光系统性能的广泛测量

LTF测量系统 — 激光测距仪的最终测量

LT是模块化测量系统,它能够测量各种激光测距仪、激光指示器和激光照射器的性能参数。LTF是小型化的激光测距仪最终性能参数测量系统(测量消光比)。LT系统采用电子模拟反射光束,而LTF采用光纤来模拟激光反射辐射

*   LT测量系统

采用LT系统测量激光测距仪的基本原理就是首先准直照射的激光束,使之色散后测量光束的能量,时间和空间上的参数;最后给一个时间延迟后再发射一新的光束到激光测距仪的接收模块。LT系统包括LT测量仪,计算机(配有采集卡),和LAS软件。LT系统可以测量激光测距仪的如下性能参数:

脉冲能量

脉冲宽度

脉冲频率

光束的发散角

接收器灵敏度

测距精度(目标)

测距精度(多反射)

激光发射器的轴校准(对内部光轴,或者外部电视相机和热像仪)

接收器对准(相对发射器)

由于LT系统采用先进的技术,它能够测量非常宽的脉冲能量范围,能够模拟多次反射,能够测量高频激光测距仪,所以它的性能要远远优于市场上其它同类型测量仪器。

*   LTF测量系统

激光测距仪的最终性能测量通常是用照射一个远距离目标(0.5到1公里),衰减激光测距仪的辐射,然后检测在什么衰减水平时激光测距仪就失去了测距能力。这种方法通常称之为消光比测量。 LTF是小型化,可移动的,可模仿实验室条件测量激光测距仪消光比的的测量系统,使用它可以减少测量时间和成本。

LTF几乎可以测量所以激光测距仪。特别建议激光测距仪的最终使用者在要求很高的应用时采用LTF可以操作简单,并且快速确定被测量激光测距仪的性能参数。

LTF包括两个模块:LTF主模块和计算机及软件。LTF主模块由外部衰减模块,发射器物镜,发射器靶标,接收器积分器,光纤光学,衰减器,接收器积分器,和接收器物镜组成。发射器物镜把入射的激光辐照聚焦到反射器靶标的平面上。后者模拟在消光比测量时使用的小的反射靶标—只有照射到靶标的辐射才能发生出去。发射器积分器将直接的入射辐射转化成漫辐射。光纤光学以一定的时间延迟发射入射的辐射。为了模拟在野外条件下一定距离时的大气的衰减,衰减器衰减入射的辐射。接收器积分器把入射的直接辐射转化成漫辐射。接收器靶标的用途和发射器靶标的用途是一致的。最后,接收器光学发射准直光束被测量激光测距仪的接收器上,这个光束模拟被激光测距仪照射的靶标的反射光束。

LT 测量系统测量激光测距机

*   LT测量系统的基本原理

LT测量系统是一个多功能模块化设计的可以测量激光测距机或者红外照明的所有重要参数的测量系统。

总体来说对于激光测距机的测量是基于可以校准出射的激光脉冲,测试能量,脉冲的时间和空间参数,出射可控时间延迟的光学脉冲(一系列脉冲)等能被激光测距机的接受模块所接收的测量方法。

基本上LT测量系统是有三个主要部分所组成:LT测试站,PC(带有图像采集卡),LAS软件。

LT测量系统可以实现以下对于激光测距机的重要参数:

脉冲能量,脉冲功率,脉冲宽度,脉冲频率,脉冲散度,接受灵敏度,距离测量精确度(单目标),距离测量精确度(基于叠加反射的情况),激光出射的轴线对准(基于内部光学视场的光轴,或者外部的可见光图像/热图像)以及接收器的对准(基于发射器)。

基于一些新的现代的特点(非常宽的脉冲能量范围,多次叠加反射的模拟,测试高频激光测距机的能力,宽范围的校准接收器灵敏度水平),我们的LT测量系统也在持续的增加更大的测量范围和更为有意义的测试参数。

*  LT测量系统的版本

LT测试系统基本上分为两种不同形式的设计:LT-X和LT-Y

LT-X测试站基于典型的可扩展的LRFs的测量而设计。这就是说假设用户想要测量LRFs的所有参数(脉冲能量,脉冲时间,PRF,精确度,接收器灵敏度),和增加的对测试LRF“intelloigence”(对于叠加的反射是如何工作的)以及检查发射器和接收器一些参考轴的对准(光学视场,电视相机或者热成像)。

LT-Y测试站是一套可以简化的测量LRFs以及可以进行室内或者野外的轴线校准应用,另外,假设在野外环境对激光测距机进行测量,在知识经验方面,光学脉冲的最大功率要比脉冲能量更重要。因此LT-Y测试站的电子学部分要比LT-X更为简单一些,但是同时在野外环境中适应性和抵抗性更为优秀。

下面的列表中详细的给出了以上两种LT测量系统的的参数,我们可以看到有两个主要的不同点。

LT-X-基于实验室环境,LT-Y基于野外环境

LT-X可以直接测量脉冲能量,非直接测量最大脉冲功率,LT-Y直接测量脉冲能量,非直接测量最大脉冲功率

LT-X可以模拟5组反射,LT-Y只可以一组

LT-Y可以在更为宽泛的温度环境中工作

*  LT测量系统组成

LT-X

LT-Y

LT-X基本模块,一组传感测试卡,对准卡,一组脉冲源,PC,图像采集卡,LAS-X软件

LT-Y基本模块,一组传感测试卡,对准卡,一组脉冲源,PC,图像采集卡,LAS-Y软件

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